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FOC03-AM1K

  • 类型:激光测距传感器 品牌:西克SICK 系列:OC Sharp 纳米级

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特性规格:

  • 产品量程从600微米到12毫米
  • 光谱共焦法原理传感器带来高精度和高可靠性
  • 极高的测量频率,达4,000 Hz
  • 广泛适用于各种材料和颜色被测物的高精度稳定测量
  • 一个测量头即可以精确测量极薄透明薄膜的厚度
  • 最小4微米的极小光点,可以测量非常小的被测物
  • 最高5.5纳米的分辨率
  • 一台控制器同时连接一个测量头工作
  • 测距,透明测厚和干涉法测厚三种测量工作模式
  • 免费操作软件,使用方便

应用领域:

  • 高精度识别测量:比如汽车行业发动机和变速箱等核心部件的尺寸测量,机床行业的高精度加工件测量
  • 薄膜厚度测量:比如吹膜机膜厚监控,流延膜厚监控
  • 精密制造及组装行业:比如轴承钢珠外形监控,细孔深度测量
  • 电子及太阳能:半导体硅片表面物相监控
  • 电子及太阳能:电路板质量监控,高精度IC针脚监控,比如硬盘制造,消费电子产品组装质量监控
  • 透明玻璃厚度检测:比如显示屏玻璃平面度及厚度测量,镜头或镜片镀膜厚度检测


客户受益:

  • 得益于传感器纳米级的高精度和4K的测量频率,可以高速高精度的检测各种物体
  • 极高的精度和极大的允许倾斜角度,让现场使用非常灵活,节省成本
  • 单头测量透明物体厚度,为高精度透明物体测量提供高性价比方案
  • 得益于其极小的光斑,该传感器可以用来测量极小的被测物,比如IC针脚,或者极小的孔深,而这些原来的接触式或者三角测量法传感器都无法实现,为客户的测量提供新的可能方案。
  • 非接触性式,无需特殊安装设备及免示教的测量技术,为客户节省安装调试及后期维护时间,节省成本。
  • 随机附带的操作软件,为客户节省时间和成本

说明:我们可以为您提供完整 FOC03-AM1K规格参数、使用说明书、选型资料、安装图纸、接线表、安装技术指导、报价等,我们承诺我们售出的西克(SICK)激光测距传感器 FOC03-AM1K均是原装正品,请放心采购!如果页面中的参数与您需要的有出入,请联系客服咨询!

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品牌介绍

西克原名为”施克“,后改名为”西克“,西克(SICK)成立于1946年,公司名称取自于公司创始人欧文·西克博士(Dr. Erwin Sick)的姓氏,总公司位于德国西南部的瓦尔德基尔希市(Waldkirch)。
西克(SICK)已在全球建立了接近50个子公司和众多的销售机构, 雇员总数超过6,500人,2013年销售业绩逾10亿欧元。
历经多年的发展与积累,已成为当地极具影响力的智能传感器解决方案供应商,产品广泛应用于各行各业,包括包装,食品饮料,机床,汽车,物流,机场,电子,纺织等行业。已在广州,上海,北京,青岛,香港等地设有分支机构,并形成了辐射全国各主要区域的机构体系和业务网络。